歡迎進入北京恒奧德儀器儀表有限公司網(wǎng)站!
Product
當前位置:首頁 / 產(chǎn)品中心 / 其他專用儀器 / 其他 / DP-CS150電化學(xué)作站
電化學(xué)作站/腐蝕測量儀 型號:DP-CS150采用浮地式,具有出色的穩(wěn)定性和度,的硬件和能善的軟件,為涉及能源、材料、生命、環(huán)保等域的科作者提供了的科研平臺。
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLES品牌 | TESTO/德國德圖 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
---|
電化學(xué)作站/腐蝕測量儀 型號:DP-CS150
DP-CS電化學(xué)作站采用浮地式,具有出色的穩(wěn)定性和度,的硬件和能善的軟件,為涉及能源、材料、生命、環(huán)保等域的科作者提供了的科研平臺。
具體應(yīng)用于:
(1) 電合成、電沉積(電鍍)、陽氧化、電解等反應(yīng)機理研究;
(2)電化學(xué)分析研究;
(3)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和電容器等)、能材料以及傳感器的性能研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護效率的快速評價。
硬件點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道速16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 帶寬輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 率恒電位儀/恒電儀/零電阻電計
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可擴展至±200V)
● 電控制范圍:±2.0A(可擴展至±5.0A)
● 電位分辨率:10μV,電分辨率:10pA(可延伸至100fA)
軟件點
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算,計算各氧化還原峰的峰、峰面積和峰電位等;
化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析,計算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電密度icorr,限擴散電、化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學(xué)噪聲譜計算率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
實時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導(dǎo)致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
測試軟件具有定時測量能, 對于某些需要研究體系隨時間變化征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,提實驗效率。
恒電位控制范圍:±10V | 恒電控制范圍:±2.0A |
電位控制度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電控制度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電靈敏度:<10pA |
電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電量程:2A~200nA, 共8檔 |
參比電輸入阻抗:1012Ω||20pF | 大輸出電:2.0A |
槽壓輸出:±21V | 電掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:0.01mV~10000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的小電位增量:0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz | 電與電位量程:自動設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:USB2.0 | 儀器重量:6.5Kg |
外形尺寸(cm):36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
|
信號發(fā)生器 | |
頻率響應(yīng):10μHz~115KHz | 交信號幅值:1mV~2500mV |
頻率度:0.005% | 直偏壓:-10V~+10V |
DDS輸出阻抗:50Ω | 波形:正弦波,三角波,方波 |
正弦波失真率:<1% | 掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 |
信號分析器 | |
大積分時間:106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
小積分時間:10mS 或者個循環(huán)的長時間 |
|
直偏置補償 | |
電位補償范圍:-10V~+10V | 電補償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8可調(diào) |
|
能方法 | DP-CS120 | DP-CS150 | DP-CS300 | DP-CS310 | DP-CS350 | DP-CS360 | |
穩(wěn)態(tài)化 | 開路電位測量(OCP) | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
恒電位化(i-t曲線) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電化 |
| ● | ● | ● | ● | ● | |
動電位掃描(TAFEL曲線) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
動電掃描(DGP) |
| ● | ● | ● | ● | ● | |
暫態(tài)化 | 意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
意恒電階梯波 |
| ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電位階躍(VSTEP) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電階躍(ISTEP) |
| ● | ● | ● | ● | ● | |
快速電位脈沖 |
|
|
|
|
| ● | |
快速電脈沖 |
|
|
|
|
| ● | |
計時分析 | 計時電位法(CP) |
|
| ● | ● | ● | ● |
計時電法(CA) |
|
| ● | ● | ● | ● | |
計時電量法(CC) |
|
| ● | ● | ● | ● | |
伏安分析 | 線性掃描伏安法(LSV) | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
線性循環(huán)伏安法(CV) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
階梯循環(huán)伏安法(SCV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
方波伏安法(SWV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
差分脈沖伏安法(DPV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
常規(guī)脈沖伏安法(NPV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
交伏安法(ACV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
二次諧波交伏安(SHACV) |
|
| ● |
| ● | ● | |
溶出伏安 | 恒電位溶出伏安 |
|
| ● |
| ● | ● |
線性溶出伏安 |
|
| ● |
| ● | ● | |
階梯溶出伏安 |
|
| ● |
| ● | ● | |
方波溶出伏安 |
|
| ● |
| ● | ● | |
交阻抗 | 電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描 |
|
|
| ● | ● | ● |
電化學(xué)阻抗(EIS)~時間掃描 |
|
|
| ● | ● | ● | |
電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線) |
|
|
| ● | ● | ● | |
腐蝕測量 | 循環(huán)化曲線(CPP) | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
線性化曲線(LPR) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電化學(xué)噪聲(EN) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電偶腐蝕測量(ZRA) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
氫擴散測試(HDT)* | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電池測量 | 電池充放電測試 |
| ● | ● | ● | ● | ● |
恒電充放電 |
| ● | ● | ● | ● | ● | |
光電測量 | 電致調(diào)光測量 * |
|
|
|
| ● | ● |
光譜儀測量 * |
|
|
|
| ● | ● | |
擴展測量 | 盤環(huán)電測試 * |
|
| ● | ● | ● | ● |
數(shù)字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
波形發(fā)生器 |
|
| ● | ● | ● | ● | |
圓盤電機控制 |
|
| ● | ● | ● | ● |
注: * 氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電測試需配置DP-CS1001A恒源或采用DP-CS2350雙恒電位儀。
* 光電測量能用戶選配。
* 產(chǎn)品3年質(zhì)保。
儀器配置:
1)儀器主機1臺
2)測試與分析軟件1套
3)用電解池(含鹽橋和排氣管)1套
4)輔助、參比、作電各1支
5)模擬電解池1個
6)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7)電電纜線1條
8)電架(選配 *)
9)屏蔽箱(選配 *)
10)電腦(選配 *)