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電化學(xué)作站

產(chǎn)品簡介

電化學(xué)作站/腐蝕測量儀 型號:DP-CS150采用浮地式,具有出色的穩(wěn)定性和度,的硬件和能善的軟件,為涉及能源、材料、生命、環(huán)保等域的科作者提供了的科研平臺。

產(chǎn)品型號:DP-CS150
更新時間:2018-09-26
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:349
詳細介紹
品牌TESTO/德國德圖產(chǎn)地類別國產(chǎn)

電化學(xué)作站/腐蝕測量儀 型號:DP-CS150

DP-CS電化學(xué)作站采用浮地式,具有出色的穩(wěn)定性和度,的硬件和能善的軟件,為涉及能源、材料、生命、環(huán)保等域的科作者提供了的科研平臺。
具體應(yīng)用于:

(1) 電合成、電沉積(電鍍)、陽氧化、電解等反應(yīng)機理研究;

(2)電化學(xué)分析研究;

(3)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和電容器等)、能材料以及傳感器的性能研究;

(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;

(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護效率的快速評價。

硬件點

● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道速16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器

● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz

● 帶寬輸入阻抗的放大器

● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器

● 率恒電位儀/恒電儀/零電阻電計

● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可擴展至±200V)

● 電控制范圍:±2.0A(可擴展至±5.0A)

● 電位分辨率:10μV,電分辨率:10pA(可延伸至100fA)

軟件點

 


① 數(shù)據(jù)分析

伏安曲線的平滑、積分和微分運算,計算各氧化還原峰的峰、峰面積和峰電位等;

化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析,計算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電密度icorr,限擴散電、化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學(xué)噪聲譜計算率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。

② 實時存儲

實時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導(dǎo)致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。

③ 定時測量

測試軟件具有定時測量能, 對于某些需要研究體系隨時間變化征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,提實驗效率。

 

恒電位控制范圍:±10V

 恒電控制范圍:±2.0A

 電位控制度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV

 電控制度:0.1%×滿量程讀數(shù)

 電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)

 電靈敏度:<10pA

 電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A)

 電量程:2A200nA, 8

 參比電輸入阻抗:1012Ω||20pF

 大輸出電:2.0A

 槽壓輸出:±21V

 電掃描增量:1mA @1A/mS

 CVLSV掃描速度:0.01mV10000V/s

 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS

 CACC脈沖寬度:0.000165000s

 DPVNPV脈沖寬度:0.00011000s

 SWV頻率:0.001100KHz

 CV的小電位增量:0.075mV

 AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz

 電與電位量程:自動設(shè)置

 DA分辨率:16bit,建立時間:1μS

 低通濾波器 8段可編程

 通訊接口:USB2.0

 儀器重量:6.5Kg

 外形尺寸(cm):36.5(W)X30.5 (D)X16 (H)

 

 

 信號發(fā)生器

 頻率響應(yīng):10μHz115KHz

 交信號幅值:1mV2500mV

 頻率度:0.005%

 直偏壓:-10V+10V

 DDS輸出阻抗:50Ω

 波形:正弦波,三角波,方波

 正弦波失真率:<1%

 掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降

 信號分析器

 大積分時間:106個循環(huán)或者105S

 測量時間延遲:0105

 小積分時間:10mS 或者個循環(huán)的長時間

 

 直偏置補償

 電位補償范圍:-10V+10V

 電補償范圍:-1A+1A

 帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置8可調(diào)

 

 

能方法

DP-CS120

DP-CS150

DP-CS300

DP-CS310

DP-CS350

DP-CS360

穩(wěn)態(tài)化

 開路電位測量(OCP)

    ●

 恒電位化(i-t曲線)

 恒電化

 

 動電位掃描(TAFEL曲線)

 動電掃描(DGP)

 

暫態(tài)化

 意恒電位階梯波

 意恒電階梯波

 

 恒電位階躍(VSTEP)

 恒電階躍(ISTEP)

 

 快速電位脈沖

 

 

 

 

 

 快速電脈沖

 

 

 

 

 

計時分析

 計時電位法(CP)

 

 

 計時電法(CA)

 

 

 計時電量法(CC)

 

 

伏安分析

 線性掃描伏安法(LSV)

 線性循環(huán)伏安法(CV)

 階梯循環(huán)伏安法(SCV)

 

 

 

 方波伏安法(SWV)

 

 

 

 差分脈沖伏安法(DPV)

 

 

 

 常規(guī)脈沖伏安法(NPV)

 

 

 

 常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)

 

 

 

 交伏安法(ACV)

 

 

 

 二次諧波交伏安(SHACV)

 

 

 

溶出伏安

 恒電位溶出伏安

 

 

 

 線性溶出伏安

 

 

 

 階梯溶出伏安

 

 

 

 方波溶出伏安

 

 

 

交阻抗

 電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描

 

 

 

 電化學(xué)阻抗(EIS)~時間掃描

 

 

 

 電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線)

 

 

 

腐蝕測量

 循環(huán)化曲線(CPP)

 線性化曲線(LPR)

 電化學(xué)噪聲(EN)

 電偶腐蝕測量(ZRA)

 氫擴散測試(HDT)*

電池測量

 電池充放電測試

 

 恒電充放電

 

光電測量

 電致調(diào)光測量 *

 

 

 

 

 光譜儀測量 *

 

 

 

 

擴展測量

 盤環(huán)電測試 *

 

 

 數(shù)字記錄儀

 波形發(fā)生器

 

 

 圓盤電機控制

 

 

 

注: * 氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電測試需配置DP-CS1001A恒源或采用DP-CS2350雙恒電位儀。

* 光電測量能用戶選配。

* 產(chǎn)品3年質(zhì)保。

 

儀器配置:

1)儀器主機1臺

2)測試與分析軟件1套

3)用電解池(含鹽橋和排氣管)1套

4)輔助、參比、作電各1支

5)模擬電解池1個

6)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條

7)電電纜線1條

8)電架(選配 *)

9)屏蔽箱(選配 *)

10)電腦(選配 *)

 

 

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